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產品中心電子數據采集器Keithley數字源表Keithley 4200半導體特性分析系統
產品簡介
Keithley 4200半導體特性分析系統使用 4200A加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析 研究。 .高性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 （I-V）、電容-電壓 （C-V） 和超快脈沖 I-V 測量
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• 內置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語
• 使用數百個用戶可修改應用測試開始您的測試
• 自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數
• 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
• 用戶可配置低電流功能，個性化輸出通道名稱，查看實時測試狀態
• NBTI/PBTI 測試，隨機電報噪聲，非易失內存設備，穩壓器應用測試
型號 | 說明 |
4200A-SCS-PK1 | 210V/100mA，0.1 fA 分辨率，對于兩端和三端設備，MOSFET、CMOS 檢定套件4200A-SCS-PK1 包括： |
高分辨率 IV 套件 | • 4200A-SCS 參數分析儀 |
• 4200-SMU 模塊 | |
• 4200-PA 前置放大器 | |
• 8101-PIV 測試夾具與采樣設備 | |
4200A-SCS-PK2 | 210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz，對于高 K 電解質，深亞微米 CMOS 檢定套件4200A-SCS-PK2 |
高分辨率 IV 和 CV 套件 | 包括： |
• 4200A-SCS 參數分析儀 | |
• 4200-SMU 模塊 | |
• 4200-PA 前置放大器 | |
• 4210-CVU 電容-電壓模塊 | |
• 8101-PIV 測試夾具與采樣設備 | |
4200A-SCS-PK3 | 210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz，對于功率設備、高 K 電解質，深亞微米 CMOS 設備檢定套件 |
高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS-PK3 包括： |
• 4200A-SCS 參數分析儀 | |
• 4200-SMU 模塊 | |
• 4210-SMU | |
• 4200-PA 前置放大器 | |
• 4210-CVU 電容-電壓模塊 | |
• 8101-PIV 測試夾具與采樣設備 | |
4200-BTI-A | 用于使用尖.端 CMOS 技術套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量4200-BTI-A 包括： |
超快 NBTI/PBTI 套件 | • 4225-PMU 超快 I-V 模塊 |
• 4225-RPM 遠程前置放大器/開關模塊 | |
• 自動化檢定套件 (ACS) 軟件 | |
• 超快 BTI 測試項目模塊 | |
• 電纜 |
Keithley 4200半導體特性分析系統
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區疊橋路456弄創研智造C7區301室
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