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產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀
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半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術(shù)，通過自動(dòng)化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
更新時(shí)間：2025-11-09
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